Контроль толщины пленки диэлетрического покрытия

Сообщение №3415 от Gardner 12 декабря 2008 г. 11:58
Тема: Контроль толщины пленки диэлетрического покрытия

При нанесении интерференционных покрытий приходится решать задачи контроля и оптимизации их оптических характеристик. Наша установка оборудована традиционным блоком на основе монохроматора, настраиваемого на выбранную длину волны. Но для ряда задач регистрации спектра в реальном масштабе времени хотел бы иметь систему на базе спектрометра с матричным линейным датчиком. Имеет ли кто опыт использования подобного оборудования в технологической напылительной установке? Какой результат? Буду благодарен за информацию и советы


Отклики на это сообщение:

а вот спектрометры с линейным датчиком мы производим. Если есть интерес, обращайтесь.


Физика в анимациях - Купить диск - Тесты по физике - Графики on-line

Реклама:
Rambler's Top100